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【应用案例】平整截面一眼可见！鼎竑 GU-AI8000 离子研磨仪直击陶瓷颗粒切割痛点！

发布时间：

2025-11-24

1.前言

鼎竑离子研磨仪GU-AI8000是可获得高质量平整面的离子研磨仪。无论是截面样品制备，还是大面积平面抛光，GU-AI8000均可以提供有效的解决方案。

其可制备多种材料类型样品，包括金属样品、多孔样品、脆性样品等，可为SEM形貌观察分析、EDS、WDS、EBSD等微区分析的样品做前制备，适用于电子电器行业、新能源行业、汽车行业、地质行业等。

陶瓷类材料在材料领域应用广泛，陶瓷颗粒的截面研究很重要，其硬度大脆度高的特点使普通的机械切割磨抛不易使其平整，从而影响观察，使用离子切割可避免这类问题。

本文使用鼎竑离子研磨仪GU-AI8000对陶瓷颗粒进行离子切割，使其拥有一个平整且真实的截面以便于电镜观察。鼎竑离子研磨仪GU-AI8000如图。

2.仪器切割参数

电压：7.0kv

电流：0.4mA

时间：2.5h

温度：-30℃

摆动角度：30°

3.样品前处理

将陶瓷颗粒使用树脂镶嵌好后，使用磨抛机将其表面磨抛平整，之后使用银胶粘贴到挡板上，露出40微米高度。

4.结果与讨论

（1）陶瓷颗粒切割后电镜图

陶瓷颗粒切割后电镜图如图：

在样品电镜图中，可以清晰观察到平整的陶瓷颗粒截面，以便于后续的各类分析，证明了样品切割后的平整及真实，达到了制样观察效果。

5.结论

本文利用鼎竑离子研磨仪GU-AI8000对陶瓷颗粒样品进行了切割。该仪器方法参数良好，可以高效完成对此类样品的离子切割，使其截面平整且真实从而可以良好的观察。同时改良方法参数也可对其他材料的样品进行离子切割。

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