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高效获取真实平整截面——鼎竑 GU-AI8000 在陶瓷块状样品微区分析前制备中的应用！
发布时间：
2025-12-17
前言
鼎竑离子研磨仪GU-AI8000是可获得高质量平整面的离子研磨仪。无论是截面样品制备，还是大面积平面抛光，GU-AI8000均可以提供有效的解决方案，其可制备多种材料类型样品，包括金属样品、多孔样品、脆性样品等，可为SEM形貌观察分析、EDS、WDS、EBSD等微区分析的样品做前制备，适用于电子电器行业、新能源行业、汽车行业、地质行业等。
陶瓷类材料在材料领域应用广泛，陶瓷整体的截面研究很重要，其硬度大脆度高的特点使普通的机械切割磨抛不易使其平整，从而影响观察，使用离子切割可避免这类问题。
图1 陶瓷类材料示意图
本文使用鼎竑离子研磨仪GU-AI8000对陶瓷进行离子切割，使其拥有一个平整且真实的截面以便于电镜观察。鼎竑离子研磨仪GU-AI8000如图2：
图2 鼎竑离子研磨仪GU-AI8000
01.仪器切割参数
电压：7.5kv
电流：0.4mA
时间：3h
温度：-30℃
摆动角度：30°
02.样品前处理
将陶瓷使用树脂镶嵌好后，使用磨抛机将其表面磨抛平整，之后使用银胶粘贴到挡板上，露出30微米高度。
03.结果与讨论
（1）陶瓷切割后电镜图
陶瓷切割后电镜图如图3：
图3 陶瓷电镜图
在样品电镜图中，可以清晰观察到平整的陶瓷截面以及表面的镀膜形况，以便于后续的各类分析，证明了样品切割后的平整及真实，达到了制样观察效果。
04.结论
本文利用鼎竑离子研磨仪GU-AI8000对陶瓷样品进行了切割。该仪器方法参数良好，可以高效完成对此类样品的离子切割，使其截面平整且真实从而可以良好的观察。同时改良方法参数也可对其他材料的样品进行离子切割。
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